薄膜测厚仪:精准测量厚度
2024-04-13
薄膜测厚仪是一种用于测量薄膜厚度的仪器。在现代工业生产中,薄膜广泛应用于电子、光学、医疗、航空、汽车等领域。而薄膜的厚度对于产品的性能和质量有着至关重要的作用。精准测量薄膜厚度的需求也越来越高。本文将介绍薄膜测厚仪的原理、应用、优点等方面的内容,以帮助读者更好地了解薄膜测厚仪。 原理 薄膜测厚仪的测量原理基于光学干涉法,即利用光的干涉现象来测量薄膜的厚度。它通过将光线照射到薄膜表面,反射到探测器上,根据干涉光的相位差来计算出薄膜的厚度。薄膜测厚仪的测量精度可以达到纳米级别,具有高度的可靠性和准